視覺檢測設(shè)備光源詳細剖析

    視覺檢測設(shè)備作為如今工業(yè)自動化產(chǎn)業(yè)的重要品質(zhì)檢驗工具，它的質(zhì)量同樣是十分重要的。而影響視覺檢測設(shè)備質(zhì)量的重要因素之一就是光源。今天，瑞智光電小編就來給大家詳細剖析一下視覺檢測設(shè)備光源。

    我們先來看看視覺檢測設(shè)備光源的分類，光源主要可以分為哪幾類呢？

    一、視覺檢測設(shè)備光源的分類

    1、環(huán)形光源

    環(huán)形光源供應(yīng)不同照射角度、不同顏色組合，更能突出物體的三維信息內(nèi)容；高密度LED陣列，高亮度；多種緊湊設(shè)計，節(jié)省安裝空間；解決對角照射陰影問題；可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻擴散。應(yīng)用領(lǐng)域：PCB基板檢測，IC元件檢測，顯微鏡照明，液晶校正，塑膠容器檢測，集成電路印字檢查

    2、背光源

    用高密度LED陣列面供應(yīng)高強度背光照明，能突出物體的外形輪廓特點，尤其適合作為顯微鏡的載物臺。紅白兩用背光源、紅藍多用背光源，能調(diào)配出不同顏色，達到不同被測物多色規(guī)定。應(yīng)用領(lǐng)域：機械零件規(guī)格的測量，電子元件、IC的外型檢測，膠片污點檢測，透明物體劃痕檢測等。

    3、條形光源

    條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測物的首選光源；顏色可根據(jù)要求搭配，自由組合；照射角度與安裝自由可調(diào)。應(yīng)用領(lǐng)域：金屬表面檢查，圖像掃描，表面裂縫檢測，LCD面板檢測等。

    4、同軸光源

    同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影，從而減少干擾；部分采用分光鏡設(shè)計，減少光損失，提高成像清晰度，均勻照射物體表面。應(yīng)用領(lǐng)域：系列光源最適合用于反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測，芯片和硅晶片的破損檢測，Mark點定位，包裝條碼識別。

    5、AOI專用光源

    不同角度的三色光照明，照射凸顯焊錫三維信息內(nèi)容；外加漫射板導(dǎo)光，減少反光；不同角度組合；應(yīng)用領(lǐng)域：用于電路板焊錫檢測。

    6、球積分光源

    球積分光源具有積分效果的半球面內(nèi)壁，均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線，使整個圖像的照度十分均勻。應(yīng)用領(lǐng)域：合于曲面，表面凹凸，弧形表面檢測，或金屬、玻璃表面反光較強的物體表面檢測。

    7、線形光源

    超高亮度，采用柱面透鏡聚光，適用于各種流水線連續(xù)檢測場合。應(yīng)用領(lǐng)域：陣相機照明專用，AOI專用。

    8、點光源

    大輸出功率LED，體積小，發(fā)光強度高；光纖鹵素燈的替代品，尤其適合作為鏡頭的同軸光源等；高效散熱裝置，進一步提高光源的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域：適合遠心鏡頭使用，用于芯片檢測，Mark點定位，晶片及液晶玻璃底基校正。

    9、組合條形光源

    四邊配置條形光，每邊照明獨立可控；可根據(jù)被測物規(guī)定調(diào)節(jié)所需照明角度，適用性廣。應(yīng)用案例：CB基板檢測，IC元件檢測，焊錫檢查，Mark點定位，顯微鏡照明，包裝條碼照明，球形物體照明等。

    10、對位光源

    對位速度快；視場大；精密度高；體積小，便于檢測集成；亮度高，可選配輔助環(huán)形光源。應(yīng)用領(lǐng)域：VA系列光源是自動式電路板印刷機對位的專用光源。

    接下來，我們繼續(xù)對視覺檢測設(shè)備光源剖析，接著我們來看看，視覺檢測設(shè)備光源該怎么選擇！

    二、視覺檢測設(shè)備光源的選擇

    1、必須前景與背景更大的對比度？–考慮用黑白相機與彩色光源

    2、環(huán)境光的問題？–嘗試用單色光源，配一個濾鏡

    3、閃光曲面？–嘗試用散射圓頂光

    4、閃光，平的，但粗糙的表面？–嘗試用同軸散射光

    5、看表面的形狀？–考慮用暗視場（低角度）

    6、檢測塑料的時候–嘗試用紫外或紅外光

    7、必須通過反射的表面看特點？–嘗試用低角度線光源（暗視場）

    8、組合光源有時候也能解決問題

    9、頻閃能夠產(chǎn)生比常亮照明20倍強的光。